|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Воздействие рентгеновского излучения и повышенной температуры на МОП-транзисторы с КНИ структуройтезисы доклада Тезисы
- Авторы: Мурашев В.Н., Ладыгин Е.А., Лагов П.Б., Алексеев А.Е., Вавилов В.А.
- Сборник: Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2000»
- Серия: РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ
- Том: 3
- Тезисы
- Год издания: 2000
- Место издания: СПЭЛС Москва
- Первая страница: 5
- Последняя страница: 5
- Аннотация: стр
- Добавил в систему: Лагов Петр Борисович