|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
The electronic structure formation of CuxTiSe2 in a wide range (0.04 $\less$ x $\less$ 0.8) of copper concentrationстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 6 декабря 2018 г.
- Авторы: Shkvarin A.S., Yarmoshenko Yu M., Yablonskikh M.V., Merentsov A.I., Shkvarina E.G., Titov A.A., Zhukov Yu M., Titov A.N.
- Журнал: Journal of Chemical Physics
- Том: 144
- Номер: 7
- Год издания: 2016
- Издательство: AIP Publishing
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 074702
- DOI: 10.1063/1.4941767
- Аннотация: An experimental study of the electronic structure of copper intercalated titanium dichalcogenides in a wide range of copper concentrations (x = 0.04-0.8) using x-ray photoelectron spectroscopy, resonant photoelectron spectroscopy, and x-ray absorption spectroscopy has been performed. Shift towards low energies of the Ti 2p and Se 3d core level spectra and a corresponding decrease in the photon energy of Ti 2p absorption spectra with the increase in copper concentration have been found. These sign-anomalous shifts may be explained by the shielding effect of the corresponding atomic shells as a result of the dynamic charge transfer during the formation of a covalent chemical bond between the copper atoms and the TiSe2 matrix.
- Добавил в систему: Титов Александр Натанович