|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Идентификация дефектов силиконовых подложек в устройствах микроэлектроники методом дискретных источниковстатья
- Авторы: Еремин Ю.А., Орлов Н.В., Свешников А.Г.
- Журнал: Электромагнитные волны
- Номер: 5
- Год издания: 1998
- Первая страница: 34
- Последняя страница: 43
- Добавил в систему: Еремин Юрий Александрович