|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Procedure for Modeling the Distribution of Doping Components Using Data from X-Ray Diffraction Experimentsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 августа 2016 г.
- Авторы: Akimova O.V., Avdyukhina V.M., Levin I.S., Revkevich G.P.
- Журнал: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
- Том: 78
- Номер: 11
- Год издания: 2014
- Издательство: Allerton Press Inc.
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 1174
- Последняя страница: 1178
- DOI: 10.3103/S1062873814110033
- Аннотация: An X-ray diffraction procedure is proposed for modeling the distribution of components in the depth of an alloy by analyzing the integral intensity, shape, and width of diffraction peaks of two orders of reflection. The procedure is used to refine data on the phase composition and distribution of indium atoms in the depth of hydrogenised Pd–In–Ru alloy after its long-term relaxation.
- Добавил в систему: Авдюхина Валентина Михайловна