|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
PROFILE ANALYSIS APPLICATION IN THE MODELING OF MULTIWAVE DIFFRACTIONстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus,
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 20 января 2016 г.
- Авторы: NESTERENKO AP, ZHUKOV SG, FETISOV GV, ASLANOV LA
- Журнал: Journal of Applied Crystallography
- Том: 24
- Год издания: 1991
- Издательство: Blackwell Publishing Inc.
- Местоположение издательства: United Kingdom
- Первая страница: 910
- Последняя страница: 912
- DOI: 10.1107/S0021889891004363
- Аннотация: The results of intensity profile analysis of Bragg reflections are used for the calculation of the reflectivity Q(DELTA-theta-ij, sigma-ij) = W(DELTA-theta-ij, sigma-ij)(\F\2Lp)ij in the energy transfer equation for multiwave X-ray diffraction in crystals. The diffraction profiles in the profile analysis are fitted by different analytical functions and the fitting results are used for modelling the multiwave diffraction. The results of modelling multiwave diffraction in Si and V3Si crystals with different grades of perfection demonstrate that the method suggested here is sensitive to the content of defects in crystals and can be used not only for simultaneous reflection correction in X-ray structure analysis but also for estimation of single-crystal perfection.
- Добавил в систему: Фетисов Геннадий Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | gl0174.pdf | 286,9 КБ | 5 февраля 2015 [gv_fetisov] |