|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
AN X-RAY DIFFRACTOMETER FOR STUDYING THE EFFECT OF EXTERNAL FIELDS ON THE STRUCTURE AND ELECTRON-DISTRIBUTION OF SINGLE-CRYSTALSстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 20 января 2016 г.
- Авторы: ASLANOV LA, TRUNOV VA, FETISOV GV, PRIEMYSHEV VA, RYBAKOV VB, KASMAN YA, BULKIN AP
- Журнал: Journal of Applied Crystallography
- Том: 22
- Год издания: 1989
- Издательство: Blackwell Publishing Inc.
- Местоположение издательства: United Kingdom
- Первая страница: 42
- Последняя страница: 45
- DOI: 10.1107/S002188988801060X
- Добавил в систему: Фетисов Геннадий Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | gl0086.pdf | 443,3 КБ | 5 февраля 2015 [gv_fetisov] |