|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
X-ray reflection profile processing for Bragg intensity and TDS determinationстатья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
- Авторы: Laktionov A.V., Fetisov G.V., Aslanov L.A.
- Журнал: Acta Crystallographica Section A: Foundations of Crystallography
- Том: 46
- Номер: Supplement
- Год издания: 1990
- Издательство: Blackwell Publishing Inc.
- Местоположение издательства: United Kingdom
- Первая страница: C-40
- Последняя страница: C-40
- Аннотация: XVIth Congress of the IUCr, Bordeaux, France, 1990
- Добавил в систему: Фетисов Геннадий Владимирович