|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Двухпараметрическая аппроксимация экспериментальных зависимостей сечения сбоев микросхем ОЗУ от ЛПЭ тяжелых ионовтезисы доклада
- Авторы: Кузнецов Н.В., Мишин Г., Ходненко В.
- Сборник: Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2000»
- Серия: РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ
- Том: 3
- Тезисы
- Год издания: 2000
- Место издания: СПЭЛС Москва
- Первая страница: 103
- Последняя страница: 104
- Добавил в систему: Кузнецов Николай Викторович