|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
AFM and XPS investigations of silica films manufactured by sol-gel method and ion spatteringтезисы доклада
- Авторы: Kanunnikova O.M., Lomayeva S.F., Muravyev A.E.
- Сборник: Proceedings of International Workshop “Scanning probe microscopy”, Nizhny Novgorod
- Тезисы
- Год издания: 2004
- Место издания: Nizhny Novgorod
- Первая страница: 2
- Последняя страница: 6
- Добавил в систему: Канунникова Ольга Михайловна