Аннотация:О разработке нового подхода к оценке характеристик радиационных полей, воздействующих на микро- и наноэлектронную аппаратуру, определения радиационной стойкости наноэлектроники космического применения, который основывается на измерении спектров плотностей энергии (СПЭ), поглощённой материальными объектами.