|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Comparative analysis of silicon nanostructures by x-ray diffraction techniqueстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 мая 2020 г.
- Авторы: Kharin A.Yu, Assilbayeva R.B., Kargina Yu V., Timoshenko V.Yu
- Журнал: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
- Том: 475
- Год издания: 2019
- Издательство: -
- Местоположение издательства: Krakow
- Первая страница: 012010
- DOI: 10.1088/1757-899x/475/1/012010
- Аннотация: Silicon nanoparticles and nanowires prepared by using different methods were investigated by means of x-ray diffraction (XRD) technique. Broadening of the XRD lines of crystalline Si lattice allows us to estimate the mean size of nanoparticles. Silicon nanoparticles stored in aqueous suspensions for several days were found to decrease their sizes due to dissolution process. The kinetics of dissolution for different kinds of nanoparticles were found to be different.
- Добавил в систему: Тимошенко Виктор Юрьевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | XRD_Si_nano_JPhysConfSer2019.pdf | 867,1 КБ | 2 декабря 2019 [vtimoshe] |