X-ray-diffraction investigation and dielectric-properties of Sb4Ge3O12 single-crystals and phases of the Bi2O3-GeO2 (SiO2) systemsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.