Интерференционный метод измерений кривизны поверхности тонких пластинок

Авторы: Рыжиков С.Б., Рыжикова Ю.В.
Сборник: Сборник трудов XIV Международной учебно-методической конференции «Современный физический практикум»
Тезисы
Год издания: 2016
Место издания: Издательский дом Московского физического общества Москва
Первая страница: 133
Последняя страница: 134
Аннотация: Предложена методика расчета кривизны поверхности тонких пластинок на основе измерения радиусов колец «равного наклона», наблюдаемых на удаленном экране при освещении пластинки лазером. Указанный эксперимент может быть использован в качестве лекционной демонстрации, а также при проведении лабораторных работ.
Добавил в систему: Рыжикова Юлия Владимировна

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ФНКЦ РР
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА