Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Optical, electrical and photoelectrical characterization of PECVD nanocrystalline silicon thin films
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
Авторы:
Kazanskii A.G.
, Khomich A.A., Sazonov A., Rad M.R.E, Lee C.H., Nathan A., Kovalev V.I., Rukovishnikov A.I.
Сборник:
Book of abstract. International Conference "Micro- and nanoelectronics - 2005"
Тезисы
Год издания:
2005
Место издания:
Zvenigorod
Первая страница:
35
Последняя страница:
35
Добавил в систему:
Казанский Андрей Георгиевич