Photoluminescence properties and characterization of LiF-based imaging detector irradiated by 10 keV XFEL beam - статья | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Photoluminescence properties and characterization of LiF-based imaging detector irradiated by 10 keV XFEL beamстатья

Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus

Авторы: Bonfigli Francesca, Hartley Nickolas, Inubushi Yuichi, Koenig M., Matsuoka Takeshi, Makarov S., Montereali R.M., Nichelatti E., Ozaki N., Piccinini M., Pikuz S., Pikuz Tatiana A., Sagae Daisuke, Vincenti M.A., Yabashi Makina, Yabuuchi Toshinori
Журнал: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Номер: 11035
Год издания: 2019
Издательство: SPIE, the International Society for Optical Engineering
Местоположение издательства: Bellingham, WA, United States
Добавил в систему: Макаров Сергей Станиславович