Развитие методов микроскопии высокого разрешения для исследования внеклеточных везикул

Авторы: Никишин И.И., Адлерберг В.В., Чевкина Е.М., Скрябин Г.О., Багров Д.В.
Сборник: XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов
Том: 1
Тезисы
Год издания: 2020
Место издания: ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН Москва
Первая страница: 58
Последняя страница: 59
DOI: 10.37795/RCEM.2020.48.78.024
Аннотация: Нами была впервые использована корреляционная микроскопия ПЭМ и АСМ проведено исследование одних и тех же областей поверхности сетки двумя методами микроскопии.
Добавил в систему: Никишин Игорь Игоревич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ФНКЦ РР
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА