|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Contribution of Lattice Defects to the Intensity of Quasi-Forbidden X-ray Reflections of Diamond: Comparison of X-Ray Topography and Infrared Spectroscopy Dataстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 февраля 2021 г.
- Авторы: Shiryaev A.A., Zolotov D.A., Suprun E.M., Dyachkova I.G., Ivakhnenko S.A., Asadchikov V.E.
- Журнал: JETP Letters
- Том: 111
- Номер: 9
- Год издания: 2020
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 489
- Последняя страница: 493
- DOI: 10.1134/s002136402009009x
- Аннотация: Представлено дальнейшее развитие подхода к исследованию дефектов в совершенных кристаллах с алмазной решеткой на основе рентгеновской топографии в квазизапрещенном отражении 222. Для синтетических алмазов различных типов проведено сравнение пространственного распределения интенсивности рентгеновских отражений 111 и 222 с распределением точечных дефектов. Установлена перспективность использования рентгеновской топографии с использованием квазизапрещенного отражения 222 для исследования слабых напряжений в совершенных кристаллах.
- Добавил в систему: Ширяев Андрей Альбертович