|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Characterization of All-chromium Tunnel Junctions and Single-electron Tunneling Devices Fabricated by Direct-writing Multilayer Techniqueстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus,
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Scherer H., Weimann Th, Hinze P., Samwer B.W., Zorin A.B., Niemeyer J.
- Журнал: Journal of Applied Physics
- Том: 86
- Номер: 12
- Год издания: 1999
- Издательство: AIP Publishing
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 6956
- Последняя страница: 6964
- Добавил в систему: Зорин Александр Борисович