|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Analysis of topography of silicon wafers and wafer-based structures by geomorphometric modelingтезисы доклада
- Авторы: Dedkova A.A., Florinsky I.V., Djuzhev N.A.
- Сборник: Proceedings of the Geomorphometry 2021 Conference, Perugia, Italy, 13–17 Sept. 2021
- Тезисы
- Год издания: 2021
- Место издания: Zenodo
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 4
- DOI: 10.5281/ZENODO.5295613
- Добавил в систему: Флоринский Игорь Васильевич