Autoelectronic emission and charge relaxation of thorium ions implanted into a thin-film silicon oxide matrixстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 22 декабря 2021 г.