XPS investigations of MOCVD tin oxide thin layers on Si nanowires arrayстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 марта 2022 г.
Авторы:Turishchev S.Yu,
Chuvenkova O.A.,
Parinova E.V.,
Koyuda D.A.,
Chumakov R.G.,
Presselt M.,
Schleusener A.,
Sivakov V.