Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
From first STM to complex analysis systems - 30 years' experience of R&D and production of metrological equipment
тезисы доклада
Авторы:
Bykov Victor
,
Polyakov Vyacheslav
, Bykov Andrey V.,
Kotov Vladimir
,
Leesment Stanislav
,
Bobrov Yuri
Сборник:
Fifth Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials ASCO-NANOMAT 2020
Тезисы
Год издания:
2020
Место издания:
Dalnauka Publishing г. Владивосток
Добавил в систему:
Никишин Игорь Игоревич