|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
SMT-based Test Program Generation for Cache-memory Testingстатья
- Автор: Корныхин Е.В.
- Сборник: East-West Design&Test Symposium (EWDTS’2009)
- Серия: Symposium EWDTS
- Год издания: 2009
- Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers
- Местоположение издательства: Piscataway, NJ, United States
- Первая страница: 124
- Последняя страница: 128
- Добавил в систему: Корныхин Евгений Валерьевич