|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Исследование туннельного тока в присутствии примесных атомов на поверхности полупроводников методом сканирующей туннельной микроскопии/спектроскопиитезисы доклада
- Авторы: Манцевич В.Н., Маслова Н.С., Орешкин А.И., Панов В.И.
- Сборник: Научная конференция “Ломоносовские чтения, секция физика, подсекция радиофизика физическая электроника и акустика
- Тезисы
- Год издания: 2010
- Место издания: Москва
- Первая страница: 27
- Последняя страница: 29
- Добавил в систему: Манцевич Владимир Николаевич