Метод эквивалентныхзамещений при точном аналитическом решении задач синтеза многослойных периодических структур со связанными волновыми толщинами и с заданными амплитудно–фазовыми характеристикамистатья
Аннотация:На основе методов эквивалентных замещений и связанных волновых толщин построен алгоритмчисленно–аналитического расчёта значений толщин интерференционной просветляющей структуры(π–структуры) для произвольного числа составляющих её слоёв. Полученный алгоритм позволяет синтезировать структуры, обеспечивающие заданный коэффициент отражения на всем непрерывном множестве значений от 0 до 1 для любых встречающихся на практике показателей преломления как материалов слоев структур, так и материалов сред, ограничивающих структуру.Корректность полученного алгоритма и работоспособность метода подтверждена численным экспериментом