|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопиистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Мухин Д., Яминский И.
- Журнал: Наноиндустрия
- Номер: 3
- Год издания: 2008
- Издательство: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 30
- Последняя страница: 35
- Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп [1], а чуть позднее – атомно-силовой [2], с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим появилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью.
- Добавил в систему: Мешков Георгий Борисович