|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования FIFO-кэш-памяти микропроцессоровстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Автор: Корныхин Е.В.
- Журнал: Вычислительные методы и программирование
- Том: 10
- Год издания: 2009
- Издательство: Научно-исследовательский вычислительный центр Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 218
- Последняя страница: 227
- Добавил в систему: Корныхин Евгений Валерьевич