Система нанопозиционирования для физического эксперимента

Авторы: Яминский Д.И., Яминский И.В.
Журнал: Наноиндустрия
Том: 16
Номер: 5
Год издания: 2023
Издательство: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера"
Местоположение издательства: Москва
Первая страница: 266
Последняя страница: 270
DOI: 10.22184/1993-8578.2023.16.5.266.270
Аннотация: Разработана двухступенчатая система нанопозиционирования по трем координатам X, Yи Z с точностью до 0,1 нм. Система нанопозиционирования предназначена для использования в скани-рующей зондовой микроскопии, оптической микроскопии сверхвысокого разрешения и микролинзо-вой микроскопии. В статье рассмотрен пример построения сканирующего капиллярного микроскопана основе разработанной системы прецизионных перемещений.
Добавил в систему: Яминский Игорь Владимирович

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ФНКЦ РР
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА