Impact of local back biasing on performance in hybrid FDSOI/bulk high-k/metal gate low power (LP) technologyстатья
-
Авторы:
Fenouillet-Beranger C.,
Perreau P.,
Benoist T.,
Richier C.,
Haendler S.,
Pradelle J.,
Bustos J.,
Brun P.,
Tosti L.,
Weber O.,
Andrieu F.,
Orlando B.,
Pellissier-Tanon D.,
Abbate F.,
Pvichard C.,
Beneyton R.,
Gregoire M.,
Ducote J.,
Gouraud P.,
Margain A.,
Borowiak C.,
Bianchini R.,
Planes N.,
Gourvest E.,
Bourdelle K.K.,
Nguyen B.Y.,
Poiroux T.,
Skotnicki T.,
Faynot O.,
Boeuf F.
-
Сборник:
2012 13th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS)
-
Год издания:
2012
-
Место издания:
IEEE
-
DOI:
10.1109/ulis.2012.6193383
-
Добавил в систему:
Бурдель Константин Константинович