Reliability study in capacitor less 1T-RAM cells on SOIстатья
-
Авторы:
Aoulaiche M.,
Collaert N.,
Simoen E.,
Mercha A.,
De Wachter B.,
Bourdelle K.K.,
Nguyen B.Y.,
Boedt F.,
Delprat D.,
Jurczak M.,
Altimime L.
-
Сборник:
2010 IEEE International SOI Conference (SOI)
-
Год издания:
2010
-
Место издания:
IEEE
-
DOI:
10.1109/soi.2010.5641377
-
Добавил в систему:
Бурдель Константин Константинович