|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Essential features of residual stress determination in thin-walled plane structures in a base of whole field interferometric measurementsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 5 июня 2017 г.
- Авторы: Pisarev V.S., Odintsev I., Balalov V.V., Apalkov A.
- Журнал: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
- Том: 4933
- Год издания: 2003
- Издательство: SPIE, the International Society for Optical Engineering
- Местоположение издательства: Bellingham, WA, United States
- Первая страница: 155
- Последняя страница: 160
- DOI: 10.1117/12.516626
- Добавил в систему: Никитина Янина Владимировна