Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Micron-scale vertical beam size measurements based on transition radiation imaging with a Schwarzschild objective
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 июля 2024 г.
Авторы:
Sukhikh L.G.,
Potylitsyn A.P.
,
Vukolov A.V.
,
Bajt S.
, Kube G.,
Artyukov I.A.
,
Lauth W.
Сборник:
Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference IBIC15
Тезисы
Год издания:
2015
Издательство:
University of Melbourne
Местоположение издательства:
Australia
Первая страница:
327
Последняя страница:
329
Добавил в систему:
Артюков Игорь Анатольевич