|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Backside Protection Structure for Security Sensitive ICsстатья
- Авторы: Amini Elham, Muydinov Ruslan, Szyszka Bernd, Boit Christian
- Сборник: International Symposium for Testing and Failure Analysis
- Год издания: 2017
- Издательство: DAAAM International Vienna
- Местоположение издательства: Austria
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 6
- DOI: 10.31399/asm.cp.istfa2017p0279
- Добавил в систему: Muydinov Ruslan Yur´evich