Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Defocused Ion Beam Etching of the Silicon Probes for High Resolution Atomic-force Microscopy
статья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 10 июля 2024 г.
Авторы:
Krasnoborodko S.Y.
,
Vysokikh Y.E.
,
Bulatov M.F.
,
Churikov D.V.
,
Smagulova S.A.
,
Shevyakov V.I.
Сборник:
2019 PhotonIcs and Electromagnetics Research Symposium
Год издания:
2019
Место издания:
Spring
Первая страница:
1063
Последняя страница:
1066
Добавил в систему:
Булатов Марат Фатыхович