Анализ рассеивающих свойств неосесимметричных дефектов подложки методом дискретных источниковстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
Аннотация:Метод дискретных источников обобщен на случай исследования рассеяния поляризованного светового излучения неосесимметричными наноразмерными дефектами подложки. При этом анализ рассеивающих свойств царапин и бугорков проводится в рамках единой математической модели с использованием “фиктивной” частицы. Приведены результаты численного эксперимента.