Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
X-ray high-resolution diffractometry investigation of sulphur implanted and pulse laser annealed InSb(111) substrates
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 января 2018 г.
Авторы:
Lomov A.A.
,
Bushuev V.A.
Сборник:
Abstr. 2nd European Sympozium “X-ray Topography and High Resolution Diffraction” (Berlin, Germany, 1994), P. 143
Тезисы
Год издания:
1994
Место издания:
Berlin
Первая страница:
143
Последняя страница:
143
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич