|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
X-ray high-resolution diffractometry investigation of sulphur implanted and pulse laser annealed InSb(111) substratesтезисы доклада
- Авторы: Lomov A.A., Bushuev V.A.
- Сборник: Abstr. 2nd European Sympozium “X-ray Topography and High Resolution Diffraction” (Berlin, Germany, 1994), P. 143
- Тезисы
- Год издания: 1994
- Место издания: Berlin
- Первая страница: 143
- Последняя страница: 143
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич