Аннотация:В работе проведена оценка неравномерности распределения дисперсного наполнителя в полимерной матрице методом масс-спектрометрии вторичных ионов. Проведено химическое картирование образцов композиционных материалов, полученных путем смешения технического углерода (сажи) и полипропилена, в характеристических ионах, что позволило определить глубинный профиль концентрации наполнителя в композите. Полученные данные свидетельствуют о том, что на поверхности нанокомпозита полипропилен/технический углерод имеется слой, обогащенный техническим углеродом. Толщина обогащенного слоя составляет около 5 мкм.
