|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Raman and second-harmonic diagnostic of SiC-based nanostructuresтезисы доклада
- Авторы: Golovan L.A., Sokolov A.A., Timoshenko V.Yu, Semenov A.V., Puzikov V.M., Lysenko V.
- Сборник: Book of Abstracts of 22th International Conference on Advanced Laser Technologies (ALT’14)
- Тезисы
- Год издания: 2014
- Место издания: Cassis, France
- Первая страница: P38
- Добавил в систему: Головань Леонид Анатольевич