|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Bayesian approach to the concept drift in the pattern recognition problemsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 сентября 2015 г.
- Авторы: Turkov Pavel, Krasotkina Olga, Mottl Vadim
- Сборник: Machine Learning and Data Mining in Pattern Recognition
- Год издания: 2009
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 10
- DOI: 10.1007/978-3-642-31537-4_1
- Добавил в систему: Красоткина Ольга Вячеславовна