|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
The XPS investigations of the surface composition of nanoscale films formed by thermal oxidation of VxOy/InP heterostructures NANOSYSTEMS-PHYSICS CHEMISTRYстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКСтатья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 сентября 2021 г.
- Авторы: Sladkopevtcev B.V., Zolotukhina E.V., Tomina E.V., Mittova I.Ya
- Журнал: Наносистемы: физика, химия, математика
- Том: 8
- Номер: 4
- Год издания: 2017
- Издательство: Университет ИТМО
- Местоположение издательства: Санкт-Петербург
- Первая страница: 523
- Последняя страница: 530
- Аннотация: The dependence of oxide films surface layers’ compositions on the method of depositing of V2O5 on InP and regimes of thermal oxidation of the formed heterostructures was established by the XPS method. Lower indium content near the surface for all samples in comparison with the standard indicates a partial blocking of its diffusion into films during the chemostimulated thermal oxidation of the semiconductor. The presence of vanadium oxides in certain oxidation states and their ratio depends on the method of deposition for the chemostimulator, and on the regime of thermal oxidation. In the case of the electric arc synthesis method, at shorter reaction times, vanadium compounds in the +4 and +5 oxidation states were present in the near-surface layer, which gives evidence for the catalytic mechanism. КиберЛенинка: https://cyberleninka.ru/article/n/the-xps-investigations-of-the-surface-composition-of-nanoscale-films-formed-by-thermal-oxidation-of-vxoy-inp-heterostructures
- Добавил в систему: Золотухина Екатерина Викторовна