Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ФНКЦ РР
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Определение параметров ультратонкого кристаллического слоя бикристалла по данным зеркального отражения рентгеновских лучей в условиях скользящей дифракции
тезисы доклада
Авторы:
Орешко А.П.
,
Бушуев В.А.
Сборник:
Тезисы докладов IV Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов
Тезисы
Год издания:
2003
Место издания:
г. Москва
Первая страница:
263
Последняя страница:
263
Добавил в систему:
Орешко Алексей Павлович