|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ФНКЦ РР |
||
Анализ профиля поверхности методами атомно-силовой микроскопиикнига
- Автор: Иваненко И.П.
- Год издания: 2018
- Место издания: Москва
- Объём: 28 страниц
- Учебно-методическая литература
- Аннотация: Описание задачи в твердотельном практикуме кафедры физической электроники
- Добавил в систему: Иваненко Илья Петрович