Анализ профиля поверхности методами атомно-силовой микроскопиикнига
-
Автор:
Иваненко И.П.
-
Год издания:
2018
-
Место издания:
Москва
-
Объём:
28 страниц
-
Учебно-методическая литература
-
Аннотация:
Описание задачи в твердотельном практикуме кафедры физической электроники
-
Добавил в систему:
Иваненко Илья Петрович