Место издания:Физический факультет МГУ им. М.В.Ломоносова Москва
Объём:
306 страниц
Учебное пособие, имеющее гриф
Аннотация:Книга является учебным пособием, написанным на основе курса лекций для студентов кафедры “Нейтронография” Физического факультета МГУ им. М.В.Ломоносова. В курсе рассмотрены вопросы, необходимые для понимания современного состояния структурной нейтронографии, и, прежде всего, нейтронографии на современных импульсных источниках нейтронов. Соответственно, курс лекций включает три основные темы: симметрия кристаллов, дифракция излучения (нейтронов) на кристаллической решетке, основы структурного анализа кристаллов. Первая из них является традиционной для курсов кристаллографии, две других излагаются с учетом специфики взаимодействия нейтронов с веществом и их дифракции на периодических структурах. Дополнительно рассмотрены методы анализа магнитных структур кристаллов и прикладные задачи нейтронографии. Курс является основой для изучения нейтронографических методов структурного анализа и предназначен для магистрантов и аспирантов высших учебных заведений физического, химического и материаловедческого направлений, а также может быть полезным молодым ученым, специализирующимся в области структурного анализа кристаллических материалов.