ИСТИНА

В научно-техническом отчете (НТО) представлены результаты исследований структурных и магнитных характеристик «толстых» Fe31Co34Ni10(SiB)25 и Co71Fe4(SiB)25 микропроводов в стекле, полученных с помощью модернизированного метода Улитовского – Тейлора. Диаметр металлической жилы изменялся от 50 до 200 мкм. Установлено, что провода обладают стабильными геометрическими параметрами, имеют гладкую блестящую поверхность, практически не содержащую дефектов, характеризуются высокими прочностными и упругими свойствами. Разрушение микропроводов не происходит даже после полного затягивания в узел. Исследования подтвердили, что стеклянная оболочка не оказывает влияния на магнитные свойства микропроводов. Поле насыщения Hs и коэрцитивная сила Hc микропроводов растут с увеличением диаметра металлической жилы. Обнаруженная слабая дисперсия магнитной анизотропии в приповерхностных слоях микропроводов была объяснена стабильными геометрическими параметрами микропроводов вдоль всей их длины. Как результат, микропровода характеризуются высокой однородностью приповерхностных локальных магнитных характеристик. В частности, изменения локальных значений полей насыщения Hs не превышает 5%.