Образование

Соавторы: Eskelinen A., Онипченко В.Г., Alatalo J., Avolio M.L., Baldwin A.H., Bowman W.D., Chiariello N.R., Collin S., Cornelissen J.H., Grman E., Harmens H., Hovenden M.J., Klanderud K., Koerner S.E., Komatsu K., McCulley R.L., Prevéy J., Reich P.B., Robinson C.H., Wilcox K.R., Aerts R., Alexander H., Anadon-Rosell A., Anderson J.M., Angers‐Blondin S., Baer S.G., Bahn M., Bates J., Beck P., Beierkuhnlein C., Belote R.T., Berner L.T., Bjorkman A.D., Björk R.G., Blair J.E., Blok D., Blonder B., Bloor J.M., Bohlen P.J., Bond-Lamberty B., Bork E.W., Boughton E.H., Britton A.J., Buchwal A., Buras A., Cahill Jr J.F., Callier L., Campetella G., Carbognani M., Cerabolini B.E., Chaneton E., Chang C.F., Chapin F.S., Chen J.P., Christie K., Cooper E.J., Cornwell W.K., Craine J.M., Dainese M., Diaz S., Du G., Elberling B., Elmendorf S.C., Firn J., Forbes B., Foster B., Frei E.R., Georges D., Goetz S.J., Gough L., Grau O., Green W., Grogan P., Guay K.C., Hallett L.M., Hallinger M., Han X.L., Heijmans M.M., Henry G.H., Hermanutz L., Hollister R.D., Houseman G.R., Huang T.H., Hudson J., Hülber K., Isbell F., Iturrate-Garcia M., Iversen C.M., Jagerbrand A., Janssen, Jaroszynska F., Jennings A., Jentsch A., Johnson D.S., Johnstone J.F., Kaarlejärvi E., Kattge J., Kern C., Kleyer M., Knapp A.K., Kreyling J., Kulonen A., Lamarque L.J., Langley J.A., Lantz T., Lemoine N.P., Li W., Little C., Luo Y., Lévesque E., Manning P., McLaren J.R., Megonigal J.P., Michelsen A., Milbau A., Morgan J.E., Myers-Smith I.H., Nabe-Nielsen J., Nielsen S., Niinemets U., Ninot J.M., Normand S., Oberbauer S.F., Olofsson J., Onoda Y., Ozinga W., Penuelas J., Petraglia A., Poschlod P., Price J.N., Rixen C., Ross K.J., Rumpf S.B., Russell F.L., Rüger N., Sala O.E., Sandel B.R., Schaepman-Strub G., Schamp B., Seabloom E.W., Shetti R., Smith M.D., Smith M.D., Soudzilovskaia N.A., Soudzilovskaia N.A., Souza L., Spasojevic M.J., Speed J.D., Suttle K.B., Svejcar T., Tate K.R., Thomas H.J., Tilman D., Tognetti P., Tomaselli M., Trant A., Treier U.A., Tremblay J., Turkington R., Vellend M., Venn S., Vowles T., Weijers S., White S., Wilmking M., Wipf S., Wookey P.A., Xu Z., Yahdjian L., Yu Q., Zamin T., de Vries F.T., te B.M., van_Bodegom P.M., Шереметьев С.Н. Показать ещё Скрыть