Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Felici R.
Felici R.
IstinaResearcherID (IRID): 261429872
Статьи в журналах Доклады на научных конференциях
–

Статьи в журналах

    • 2019 Oxygen interstitials and vacancies in liquid ion gated VO2 films: site determination and migration path
    • Mosheni K., Kumar N., Altendorf S., Stepanyuk V.S., Bazhanov D.I., Felici R., Meyerheim H.L., Parkin S.S.P
    • в журнале В печати (submitted)

Доклады на научных конференциях

    • 2019 Atomic Structure of Ionic Liquide Gate Induced Metallized Thin Oxide Films. (Устный)
    • Авторы: Meyerheim H.L., Mohseni K., Kumar N., Altendorf S., Coati A., Carla F., Felici R., Stepanyuk V.S., Bazhanov D., Parkin S.S.P
    • European Synchrotron Light Source RF Workshop 2019, Oxford, UK, October 24-25. – 2019., Оксфордский Университет, Великобритания, 24-25 октября 2019

ФНКЦ РР
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь