Образование

Соавторы: Atac H., Battaglieri M., Bedlinskiy I., Biselli A.S., Briscoe W.J., Bulumulla D., Carman D.S., Chetry T., Ciullo G., Cole P.L., D'Angelo A., Dashyan N., Defurne M., Deur A., Djalali C., Dupre R., Filippi A., Gavalian G., Gothe R.W., Griffioen K.A., Hakobyan H., Hattawy M., Hayward T.B., Holtrop M., Ilieva Y., Ireland D.G., Jo H.S., Khanal A., Kripko A., Lanza L., Leali M., Lenisa P., Marchand D., Mascagna V., McKinnon B., Migliorati S., Mirazita M., Munoz C., Neupane K., Niccolai S., Paolone M., Price J.W., Prok Y., Ripani M., Sabatié F., Schmidt A., Shrestha U., Sokhan D., Sparveris N., Strakovsky I.I., Tyson R., Ungaro M., Venturelli L., Voskanyan H., Voutier E., Zachariou N., Бояринов С.Ю., Буркерт В., Голубенко А.А., Исупов Е.Л., Мокеев В.И., Осипенко М.В., Широков Е.В., Barion L., Contalbrigo M., Diehl S., Elouadrhiri L., Ghandilyan Y., Gilfoyle G.P., Kubarovsky V., MacGregor I.J., Nadel-Turonski P., Pappalardo L.L., Paremuzyan R., Pasyuk E., Paul S.J., Poudel J., Stepanyan S., Strauch S., Wishart R., Wood M., Минеева Т.Н., Armstrong W.R., Baltzell N., Bashkanov M., Benkel B., Benmokhtar F., Celentano A., Chatagnon P., De Vita R., Egiyan H., El A.A., El F.L., Fegan S.J., Heddle D., Hobart A., Joo K., Keller D., Livingston K., Niculescu G., Phelps W., Pilleux N., Pogorelko O., Reed T., Ritman J., Salgado C., Sharabian Y., Simmerling P., Vallarino S., Watts D.P., Amaryan M.J., Bianconi A., Biondo L., Brooks W.K., Carvajal J.C., Costa G.D., Costantino G., Kim A., Lee S., Pandey S., Raue B.A., Zhao Z., Чесноков В.В., Baashen L., Capobianco R., Glazier D.I., Gotra Y., Lagerquist V., Marsicano L., Naidoo P., Nicol M., Pokhrel M., Tan J.A., Arratia M., Avakian H., Bondi M., Bueltmann S., Eugenio P., Guida M., Guidal M., Hafidi K., Hauenstein F., Khandaker M., McLauchlin C., Meziani Z.E., Montgomery R.A., Rosner G., Rossi P., Schadmand S., Schumacher R.A., Yale B., Zurek M., Ayerbe G.C., Bianconi A., Biondi M., Costantini G., Ehrhart M., Girod F.X., Johnston R., Kabir M., Khachatryan M., Klein F., Klimenko V.A., Nguyen D., Ostrovidov A.I., Ouillon M., Pandey P., Rizzo F., Trotta N., Vossen A., Wei K., Zhang J., Ziegler V., Achenbach P., Adhikari K.P., Akbar Z., Alaoui A.E., Angelini G., Bates D., Booth W.A., Brinkmann K.T., CLARK L.V., Clash G., Crede V., Dilks C., Fassi L.E., Fersch R., Gayoso C.A., Hobara Y., Hyde C.E., Jenkins D.L., Joosten S., Newton J., ROWLEY J.T., Richards J., Soto O., Spreafico M., Vita R.D., Weinstein L.B., Williams R., Кун К.Е., Чесноков В.В., Avagyan H., Benmokhtar F., Bondì M., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Brinkman K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Byler N., Bórquez A., Caudron M., Forrest M., Guo L., Guo X.L., Hicks K., Hollis G., J D.M., Khachatryan G., Kotzinian A., Kuhn S., Laget J.M., Li X, Li X, Li X, Li X, Li X, Mayer M., Mendez R., Milner R.G., Molina E., Morgan P., Morán S., Morán S., O'Connell T.R., O’Connell T.R., Park K., Peck A., Po\ifmmode \checkc\else č\fiani\ifmmode \acutec\else ć.D., Pocanic D., Reed T., Reid T.C., Richards J.L., Riehl S., Rizzo A., Segarra E.P., Tian Y., Turisini M., Tyler N., Wei K., Yurov M., Zhang J., Zhang J., Барон Л.И., Ким А.Д. Показать ещё Скрыть