17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладовсборник

Статьи, опубликованные в сборнике

---

• • 2008 Нелинейные свойства тонкопленочных матриц, активированных нанокристаллами, в рамках слабо-диссипативной КАМ
  • Богданов Р.И., Демин А.В.
  • в сборнике 17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов, серия Фотометрия и ее метрологическое обеспечение, место издания ВНИИОФИ, Москва, тезисы, с. 55-55
• • 2008 Прецизионное измерение микроскопических перемещений в оптической интерференционной микроскопии»
  • Илюшин Я.А., Ломакин А.Г.
  • в сборнике 17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов, серия Фотометрия и ее метрологическое обеспечение, место издания ВНИИОФИ, Москва, тезисы, с. 33-33