–
Доклады на научных конференциях
-
- 2008 Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометрии
- Авторы: Карцев А.А., Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский В.А., Васильев А.Л.
- Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.), С. 103-106., Великий Новгород, Россия, Россия, 2008